Описание асинхронных метрик покрытия
Асинхронные метрики покрытия описываются совместно с описанием предусловий и постусловий интерфейсных операций целевой системы. Это позволяет локализовать описание требований и выделение элементов покрытия на основе этих требований. Элементы покрытия, как правило, соответствуют ветвям функциональности в поведении интерфейсной операции или ситуациям, интересным с точки зрения тестирования, таким как граничные условия.
Предположим, что для целевой системы были выделены k видов взаимодействий, инициируемых окружением, S = { Si | i = 1, … , k } и m видов взаимодействий, инициируемых целевой системой, R = { Rj | j = 1, … , m }. А асинхронная модель требований задана посредством асинхронной спецификации Spec = { SpecSi | i = 1, …, k; k > 0 }

Тогда метрика покрытия интерфейсной операции μ : VSi x XSi x YSi x VSi

MA[μ] = { Cr



Аналогично определяются метрики покрытия интерфейсных операций-реакций. Метрика покрытия интерфейсной операции μ : VRj x Unit x YRj x VRj

MA[μ] = { Cr



Также как и в синхронном случае, определение метрик интерфейсных операций не дает возможности задать произвольную асинхронную метрику покрытия.
Этот способ позволяет описывать только метрики покрытия, переходы которых помечены одной интерфейсной операцией. Но как показывает практический опыт, этого оказывается достаточно для измерения качества тестирования систем с асинхронным интерфейсов различных типов.
Второй способ описания метрик покрытия при помощи расширенных метрик покрытия интерфейсных операций также может быть использован при тестировании асинхронных систем. Асинхронная метрика покрытия, заданная посредством расширенной метрики покрытия интерфейсной операции Si μ' = { cp | p = 1, …, n; cp : VSi x XSi x YSi x VSi

M[μ'] = { Cp


Также как и асинхронная метрика покрытия, заданная посредством расширенной метрики покрытия интерфейсной операции Rj μ' = { cp | p = 1, …, n; cp : VRj x Unit x YRj x VRj

M[μ'] = { Cp

