Контроль качества поверхности (ее шероховатости).
Оптическая система, рассмотренная выше, позволяет также контролировать шероховатость поверхности. Это обеспечивается зависимостью интенсивности рассеивания света при отражении его от микронеровностей поверхности (рис. 12.7). Чем больше микронеровностей, тем больше рассеивание света от поверхности и тем меньше его попадает на фотоматрицу. Зависимость интенсивности отраженного света I(



где A — константа, характеризующая максимальное значение интенсивности отраженного света I(




Рис. 12.7.

Рис. 12.8.
Для определения шероховатости поверхности требуется экспериментально построить интенсивность светового потока I(



где




n — число поворотов поверхности относительно оси телекамеры; I(

Связь среднеквадратичного распределения интенсивности отраженного сигнала ? с шероховатостью осуществляется определением ? для эталонных пластин заданной шероховатости.